手机真钱老虎机电玩城app官网使用于在居品的打算阶段-手机真钱老虎机电玩城最新版下载

B-HAST高加快寿命偏压老化测试系统适用于IC封装，半导体，微电子芯片，磁性材料过头它电子零件进行高压、高温、不宽裕/宽裕干冷、等加快寿命相信性纯熟，使用于在居品的打算阶段，用于快速显现居品的劣势和薄弱圭臬。测试其成品的密封性和老化性能。

B-HAST高加快寿命偏压老化测试系统是将被测元件放手于一定的环境温度中,（环境温度依据被测元件规格设定）给被测元件施加一定的偏置电压。同期适度系统及时检测每个材料的走电流，电压，并证明事前设定，当被测材料及时走电流超出设定时，自动堵截被测材料的电压，不错保护被测元件不被进一步烧毁。

B-HAST本性：

·每颗器件的Vgs孤苦适度

·及时监测每个纯熟器件的Id、Ig

· 适度上、下电时序

· 全经过纯熟数据保存于硬盘中，可输出Excel

·纯熟报表和绘图全经过走电流IR变化弧线

·走电流超限保护，自动堵截测量回路

诓骗：

二极管，三极管，MOSFET，IGBT手机真钱老虎机电玩城app官网，SBD，GaN Fet, SCR以及各式封装 时势的射频场效应管、射频功率器件进行温湿度下反偏纯熟 。